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硬盘损坏的类别区分

栏目:电脑基础
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本文主要介绍:一般来说,硬盘的损坏按大类可以分为硬损坏和软损坏。 硬损坏包括磁头组件损坏、控制电路损坏、综合性损坏和扇区物理性损坏(一般人称之为物理坏道)四种。 磁头组件损坏:主

一般来说,硬盘的损坏按大类可以分为硬损坏和软损坏。

硬损坏包括磁头组件损坏、控制电路损坏、综合性损坏和扇区物理性损坏(一般人称之为物理坏道)四种。

磁头组件损坏:主要指硬盘中磁头组件的某部分被损坏,造成部分或全部磁头无法正常读写的情况。磁头组件损坏的方式和可能性非常多,主要包括磁头脏、磁头磨损、磁头悬臂变形、磁线圈受损、移位等。

控制电路损坏:是指硬盘的电子线路板中的某一部分线路断路或短路,或者某些电气元件或IC芯片损坏等等,导致硬盘在通电后盘片不能正常起转,或者起转后磁头不能正确寻道等。

综合性损坏:主要是指因为一些微小的变化使硬盘产生的种种问题。有些是硬盘在使用过程中因为发热或者其他关系导致部分芯片老化;有些是硬盘在受到震动后,外壳或盘面或马达主轴产生了微小的变化或位移;有些是硬盘本身在设计方面就在散热、摩擦或结构上存在缺陷。种种的原因导致硬盘不稳定,经常丢数据或者出现逻辑错误,工作噪音大,读写速度慢,有时能正常工作但有时又不能正常工作等。

扇区物理性损坏:是指因为碰撞、磁头摩擦或其他原因导致磁盘盘面出现的物理性损坏,譬如划伤、掉磁等。

软损坏包括磁道伺服信息出错、系统信息区出错和扇区逻辑错误(一般又被称为逻辑坏道)。

磁道伺服信息出错:是指因为某个物理磁道的伺服信息受损或失效,导致该物理磁道无法被访问。

系统信息区出错:是指硬盘的系统信息区(硬盘内部的一个系统保留区,里面又分成若干模块,保存了许多硬盘出厂的参数、设置信息和内部控制程序)在通电自检时读不出某些模块的信息或者校验不正常,导致硬盘无法进入准备状态。

扇区逻辑错误:是指因为校验错误(ECC错误和CRC错误)、扇区标志错误(IDNF错误)、地址信息错误(AMNF错误)、坏块标记错误(BBM)等原因导致该扇区失效。

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